Procédé D'étalonnage Différentiel, Système De Vision Binoculaire Et Support De Stockage Lisible Par Ordinateur

WO2019104622 Art A1 6. Juni 2019

Anmelder: SZ DJI Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2019104622
Aktenzeichen
EP17933295
Anmeldetag
30. November 2017
Veröffentlichung
6. Juni 2019
Rechtsraum
WO
IPC
H04N5/225H04N5/235
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
SZ DJI Technology Co., Ltd.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 DJI

Chinesischer Technologiekonzern mit Sitz in Shenzhen. Weltweit führender Hersteller ziviler Drohnen sowie zugehöriger Kamera-, Stabilisierungs- und Flugsteuerungstechnologien.

1.904 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen