Machine vision-based quality inspection method and system utilizing deep learning in manufacturing process

WO2019107614 Art A1 6. Juni 2019

Anmelder: Korea Electronics Technology Institute 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019107614
Aktenzeichen: EP17933272
Anmeldetag: 30. November 2017
Veröffentlichung: 6. Juni 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/00G01N21/88G06T7/11G06K9/32G06K9/62

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Electronics Technology Institute
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Electronics Technology Institute

Staatlich gefördertes südkoreanisches Forschungsinstitut für Elektronik- und IT-Technologien mit Sitz in Seongnam, das Unternehmen bei Entwicklung und Kommerzialisierung neuer Technologien unterstützt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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