X-ray streak camera imaging performance testing system and method
WO2019114496
Art A1
20. Juni 2019
Anmelder: Shenzhen University 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019114496
- Aktenzeichen
- EP18889008
- Anmeldetag
- 16. November 2018
- Veröffentlichung
- 20. Juni 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04N17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen University
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen University
Shenzhen University ist eine staatliche Universität in Shenzhen, China, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Elektrotechnik, Materialwissenschaft und Optik.
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