Particle shape analysis method, microscope, and microscope system

WO2019131875 Art A1 4. Juli 2019

Anmelder: HORIBA, LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019131875
Aktenzeichen: EP18895598
Anmeldetag: 27. Dezember 2018
Veröffentlichung: 4. Juli 2019
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/244H01J37/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HORIBA, LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Horiba

Horiba ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher und analytischer Messinstrumente. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Softwarethemen. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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