Inspection device and inspection method

WO2019142554 Art A1 25. Juli 2019

Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019142554
Aktenzeichen: EP18901775
Anmeldetag: 12. Dezember 2018
Veröffentlichung: 25. Juli 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/02G01R1/06G01R27/26G01R27/28G01R31/302H05K3/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

2.892 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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