Arrangement for non-destructive testing and a testing method thereof

WO2019151952 Art A1 8. August 2019

Anmelder: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY 🇸🇬

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019151952
Aktenzeichen: EP19748078
Anmeldetag: 1. Februar 2019
Veröffentlichung: 8. August 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01N29/26G01N29/24G01N29/04

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY
Land: 🇸🇬 Singapur

🇸🇬 Nanyang Technological University

Die Nanyang Technological University ist eine staatliche Forschungsuniversität in Singapur, die in den Bereichen Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologie international hoch angesehen ist.

1.547 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von