A system and method for high-resolution high-contrast x-ray ghost diffraction

WO2019162934 Art A1 29. August 2019

Anmelder: BAR-ILAN UNIVERSITY 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019162934
Aktenzeichen: EP19757088
Anmeldetag: 10. Februar 2019
Veröffentlichung: 29. August 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20G01N23/20008

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: BAR-ILAN UNIVERSITY
Land: 🇮🇱 Israel

🇮🇱 Bar-Ilan University

Bar-Ilan University ist eine israelische Universität mit umfangreicher Patentaktivität aus der akademischen Forschung. Das Portfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie organische Chemie, ergänzt durch Mess- und Halbleitertechnik. Die Titel reichen von retinalen Neuroprothesen bis zu kryptografischen Verfahren.

289 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von