Temperature measuring device, ambient temperature measuring method, and ambient temperature measuring program

WO2019163363 Art A1 29. August 2019

Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019163363
Aktenzeichen: EP19757023
Anmeldetag: 22. Januar 2019
Veröffentlichung: 29. August 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01K1/20G01K7/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: OMRON CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.710 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von