Defect detection system, defect model creation program, and defect detection program
WO2019168086
Art A1
6. September 2019
Anmelder: OSAKA UNIVERSITY, NTN CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019168086
- Aktenzeichen
- EP19760582
- Anmeldetag
- 28. Februar 2019
- Veröffentlichung
- 6. September 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01M13/04G05B23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- OSAKA UNIVERSITY
NTN CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Osaka University
Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
1.047 Patente in unserer Datenbank
🇯🇵
NTN
Japanischer Hersteller von Wälzlagern mit Sitz in Osaka. NTN entwickelt Kugellager, Rollenlager und Antriebswellen für Automobil-, Maschinenbau- und Industrieanwendungen.
3.646 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.