Electrometry by optical charge conversion of defects in the solid-state

WO2019168674 Art A2 6. September 2019

Anmelder: THE UNIVERSITY OF CHICAGO 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019168674
Aktenzeichen: EP19760737
Anmeldetag: 13. Februar 2019
Veröffentlichung: 6. September 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01R15/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: THE UNIVERSITY OF CHICAGO
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 The University of Chicago

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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