Extreme scanning focal-plane arrays using a double-reflector concept with uniform array illumination

WO2019170541 Art A1 12. September 2019

Anmelder: TECHNISCHE UNIVERSITEIT EINDHOVEN 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019170541
Aktenzeichen: EP19708515
Anmeldetag: 1. März 2019
Veröffentlichung: 12. September 2019
Rechtsraum: WO
IPC: H01Q3/28H01Q3/34H01Q19/19H01Q21/06H01Q25/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TECHNISCHE UNIVERSITEIT EINDHOVEN
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Technische Universiteit Eindhoven

Die Technische Universiteit Eindhoven ist eine niederländische Technische Hochschule mit breiter Forschung in Medizintechnik, Halbleitertechnik und Materialwissenschaften. Ihr Patentportfolio deckt Medizintechnik, Halbleiterbauelemente, Mess- und Softwaretechnik ab.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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