Inspection system, lithographic apparatus, and inspection method

WO2019174899 Art A1 19. September 2019

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019174899
Aktenzeichen: EP19706648
Anmeldetag: 25. Februar 2019
Veröffentlichung: 19. September 2019
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/67G03F7/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

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