Inspection system, identification system, and device for evaluating identification apparatus

WO2019176988 Art A1 19. September 2019

Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2019176988
Aktenzeichen
EP19767334
Anmeldetag
13. März 2019
Veröffentlichung
19. September 2019
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/88G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
OMRON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.710 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen