Non-destructive inspection method

WO2019187235 Art A1 3. Oktober 2019

Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019187235
Aktenzeichen: EP18913174
Anmeldetag: 27. September 2018
Veröffentlichung: 3. Oktober 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/05G01N23/204

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: TOPCON CORPORATION
RIKEN
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

710 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 RIKEN

Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.

1.684 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von