Temperature control device and genetic testing device
WO2019193806
Art A1
10. Oktober 2019
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019193806
- Aktenzeichen
- EP19781448
- Anmeldetag
- 15. Januar 2019
- Veröffentlichung
- 10. Oktober 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C12M1/38C12M1/00G01N35/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840 Patente in unserer Datenbank