In-situ testing method for force-electrical coupling of transmission electron microscope for one-dimensional material
WO2019200760
Art A1
24. Oktober 2019
Anmelder: DALIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019200760
- Aktenzeichen
- EP18915032
- Anmeldetag
- 16. Juli 2018
- Veröffentlichung
- 24. Oktober 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N3/08G01N3/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- DALIAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Dalian University of Technology
Die Dalian University of Technology ist eine chinesische staatliche Universität mit breitem naturwissenschaftlich-technischem Forschungsprofil. Das Portfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Fertigungsverfahren und organische Chemie. Anmeldungen sind von 2004 bis in die Gegenwart belegt.
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