Microscope slide, method for manufacturing microscope slide, observation method, and analysis method
WO2019202650
Art A1
24. Oktober 2019
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019202650
- Aktenzeichen
- EP18915473
- Anmeldetag
- 17. April 2018
- Veröffentlichung
- 24. Oktober 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B21/34G01N1/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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