Microwave photon vector network analyzing device and measuring method for microwave component scattering parameter

WO2019210671 Art A1 7. November 2019

Anmelder: Shanghai Jiao Tong University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019210671
Aktenzeichen: EP18917542
Anmeldetag: 8. November 2018
Veröffentlichung: 7. November 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shanghai Jiao Tong University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shanghai Jiao Tong University

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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