Mechanically Improved Microelectronic Thermal Interface Structure For Low die Stress
WO2019212610
Art A1
7. November 2019
Anmelder: RAYTHEON COMPANY, KELVIN THERMAL TECHNOLOGIES, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019212610
- Aktenzeichen
- EP19702795
- Anmeldetag
- 14. Januar 2019
- Veröffentlichung
- 7. November 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L23/367H01L23/373H01L23/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- RAYTHEON COMPANY
KELVIN THERMAL TECHNOLOGIES, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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