Device for detecting service life of electronic component

WO2019213994 Art A1 14. November 2019

Anmelder: JIANGSU UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019213994
Aktenzeichen: EP18917986
Anmeldetag: 23. Mai 2018
Veröffentlichung: 14. November 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/01

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: JIANGSU UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Jiangsu University

Die Jiangsu University ist eine chinesische staatliche Universität mit breitem technisch-naturwissenschaftlichem Forschungsprofil. Das Patentportfolio verteilt sich auf Mess- und Prüftechnik, Landwirtschafts- und Nahrungsmitteltechnik sowie Metallurgie und Fertigungstechnik. Anmeldungen sind von 2007 bis in die Gegenwart belegt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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