Metalens unit, semiconductor fault analysis device, and semiconductor fault analysis method

WO2019216112 Art A1 14. November 2019

Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019216112
Aktenzeichen: EP19800011
Anmeldetag: 11. April 2019
Veröffentlichung: 14. November 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G02B1/02G02B3/00G02B21/02G02B21/06

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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