Abnormality detection device, abnormality detection method, and program

WO2019220620 Art A1 21. November 2019

Anmelder: NEC CORPORATION, NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION TOKAI NATIONAL HIGHER EDUCATION AND RESEARCH SYSTEM 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019220620
Aktenzeichen: EP18918493
Anmeldetag: 18. Mai 2018
Veröffentlichung: 21. November 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01H17/00G01M99/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC CORPORATION
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION TOKAI NATIONAL HIGHER EDUCATION AND RESEARCH SYSTEM
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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🇯🇵 National University Corporation Tokai National Higher Education and Research System

Die National University Corporation Tokai National Higher Education and Research System ist ein japanischer Hochschulverbund mit medizinischem und naturwissenschaftlichem Forschungsschwerpunkt. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Halbleiterbauelemente, ergänzt durch Pharma-/Biotechnologie und Messtechnik. Die Anmeldungen aus 2019 bis 2025 reichen von Osteogenese-Fördermitteln bis zu Polymer-Elektrolytmembranen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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