Computer aided inspection system and methods

WO2019222255 Art A1 21. November 2019

Anmelder: SRI INTERNATIONAL 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019222255
Aktenzeichen: EP19804467
Anmeldetag: 14. Mai 2019
Veröffentlichung: 21. November 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01C15/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SRI INTERNATIONAL
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 SRI International

Der Anmelder ist ein US-amerikanisches gemeinnütziges Forschungsinstitut mit Sitz in Kalifornien, hervorgegangen aus dem Stanford Research Institute. Das Patentportfolio ist breit gestreut über Medizintechnik, Software, Halbleiterbauelemente, Messtechnik und Nachrichtentechnik. Anmeldungen laufen seit dem Jahr 2000 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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