Bandwidth calculation system and method for determining a desired wavelength bandwidth for a measurement beam in a mark detection system
WO2019223976
Art A1
28. November 2019
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019223976
- Aktenzeichen
- EP19724106
- Anmeldetag
- 2. Mai 2019
- Veröffentlichung
- 28. November 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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