Method of compensating temperature influence in capacitive measurements
WO2019224291
Art A1
28. November 2019
Anmelder: IEE INTERNATIONAL ELECTRONICS&ENGINEERING S.A. 🇱🇺
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019224291
- Aktenzeichen
- EP19725186
- Anmeldetag
- 23. Mai 2019
- Veröffentlichung
- 28. November 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01D5/24G01D18/00G01D3/032
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IEE INTERNATIONAL ELECTRONICS&ENGINEERING S.A.
- Land
- 🇱🇺 Luxemburg
🇱🇺
IEE International Electronics & Engineering
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