Prediction data server and x-ray thickness measurement system
WO2019230010
Art A1
5. Dezember 2019
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS&SOLUTIONS CORPORATI 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019230010
- Aktenzeichen
- EP18920339
- Anmeldetag
- 4. September 2018
- Veröffentlichung
- 5. Dezember 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B15/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
TOSHIBA INFRASTRUCTURE SYSTEMS&SOLUTIONS CORPORATI - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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