Aberration Reduction in Multipass Electron Microscopy

WO2019231908 Art A1 5. Dezember 2019

Anmelder: THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIO 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019231908
Aktenzeichen: EP19810520
Anmeldetag: 28. Mai 2019
Veröffentlichung: 5. Dezember 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G02B17/08G02B21/00H01J37/02H01J37/04H01J37/10H01J37/141H01J37/147H01J37/22H01J37/26H01J37/285

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIO
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 The Board of Trustees of the Leland Stanford Junior University

Rechtsträger der US-amerikanischen Stanford University in Kalifornien, der als Anmelder der zahlreichen Patente aus der Universitätsforschung fungiert. Schwerpunkte liegen unter anderem in Biotechnologie, Informatik und Materialwissenschaften.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

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