Methods and apparatus for absolute and relative depth measurements using camera focus distance

WO2019236619 Art A1 12. Dezember 2019

Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019236619
Aktenzeichen: EP19814626
Anmeldetag: 4. Juni 2019
Veröffentlichung: 12. Dezember 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/22G01B11/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: APPLIED MATERIALS, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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