Verfahren zur Bestimmung einer Lebensdauer eines Halbleiterleistungsmoduls

WO2020001679 Art A1 2. Januar 2020

Anmelder: SCHAEFFLER TECHNOLOGIES AG&CO. KG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020001679
Aktenzeichen: EP19729166
Anmeldetag: 22. Mai 2019
Veröffentlichung: 2. Januar 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01K3/08G01K7/42G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SCHAEFFLER TECHNOLOGIES AG&CO. KG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Schaeffler

Deutscher Automobil- und Industriezulieferer, entwickelt und fertigt Wälzlager, Präzisionskomponenten sowie Systeme für Antriebstechnik und Fahrwerke.

10.487 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von