Total reflection x-ray fluorescence analysis device and measuring method

WO2020003675 Art A1 2. Januar 2020

Anmelder: RIGAKU CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020003675
Aktenzeichen: EP19826893
Anmeldetag: 1. April 2019
Veröffentlichung: 2. Januar 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/223G01B15/02G01N23/20

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: RIGAKU CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Rigaku

Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.

281 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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