Substrate inspection device and substrate inspection method
WO2020008825
Art A1
9. Januar 2020
Anmelder: KOITO MANUFACTURING CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020008825
- Aktenzeichen
- EP19831455
- Anmeldetag
- 12. Juni 2019
- Veröffentlichung
- 9. Januar 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KOITO MANUFACTURING CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Koito Manufacturing
Japanischer Automobilzulieferer mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Fahrzeugbeleuchtung wie Scheinwerfern und Rückleuchten.
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