Extreme Ultraviolet Mask Blank Defect Reduction
WO2020010303
Art A1
9. Januar 2020
Anmelder: APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020010303
- Aktenzeichen
- EP19831213
- Anmeldetag
- 5. Juli 2019
- Veröffentlichung
- 9. Januar 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F1/22H01L21/027H01L21/311H01L21/02H01L21/67
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- APPLIED MATERIALS, INC.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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