Atomic force microscope probe wrapped with two-dimensional layered structure, preparation method therefor, and application thereof

WO2020015243 Art A1 23. Januar 2020

Anmelder: TSINGHUA UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020015243
Aktenzeichen: EP18926924
Anmeldetag: 31. Oktober 2018
Veröffentlichung: 23. Januar 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q60/38

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: TSINGHUA UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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