X-ray inspection device
WO2020017076
Art A1
23. Januar 2020
Anmelder: FUJI ELECTRIC CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020017076
- Aktenzeichen
- EP19838147
- Anmeldetag
- 16. Januar 2019
- Veröffentlichung
- 23. Januar 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04G01N23/10G01V5/08G21K1/04G21K5/00G21K5/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJI ELECTRIC CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fuji Electric
Japanischer Elektrotechnikkonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Leistungshalbleiter, Energieerzeugungsanlagen und industrielle Automatisierungstechnik.
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Vertreten von
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