Semiconductor laser element, testing method and testing device

WO2020022235 Art A1 30. Januar 2020

Anmelder: Nuvoton Technology Corporation Japan 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020022235
Aktenzeichen: EP19840085
Anmeldetag: 19. Juli 2019
Veröffentlichung: 30. Januar 2020
Rechtsraum: WO
IPC: H01S5/16H01S5/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nuvoton Technology Corporation Japan
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nuvoton Technology Corporation Japan

Nuvoton Technology Corporation Japan ist die japanische Tochtergesellschaft des taiwanischen Halbleiterunternehmens Nuvoton. Das Patentportfolio konzentriert sich sehr stark auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik. Anmeldungen laufen seit 2003 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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