System and method to detect glitches

WO2020023217 Art A1 30. Januar 2020

Anmelder: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020023217
Aktenzeichen: EP19841716
Anmeldetag: 11. Juli 2019
Veröffentlichung: 30. Januar 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/08G11C29/50G11C29/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc.

Varian Semiconductor Equipment Associates war ein US-amerikanischer Hersteller von Halbleiteranlagen, seit 2011 Teil von Applied Materials. Die Patente betreffen Ionenimplantation und Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

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