Method and apparatus for optimizing window parameter of integrated kernel density estimator, and terminal device

WO2020024210 Art A1 6. Februar 2020

Anmelder: Shenzhen University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020024210
Aktenzeichen
EP18928267
Anmeldetag
2. August 2018
Veröffentlichung
6. Februar 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G06F17/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Shenzhen University
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Shenzhen University

Shenzhen University ist eine staatliche Universität in Shenzhen, China, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Elektrotechnik, Materialwissenschaft und Optik.

1.287 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen