Non-destructive inspection device, non-destructive inspection system, and non-destructive inspection method
WO2020027028
Art A1
6. Februar 2020
Anmelder: KONICA MINOLTA, INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020027028
- Aktenzeichen
- EP19845298
- Anmeldetag
- 29. Juli 2019
- Veröffentlichung
- 6. Februar 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/83G01R33/10G01R33/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KONICA MINOLTA, INC.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Konica Minolta
Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.
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