Optical device and method for measuring spatially-varying aberrations of an imaging system
WO2020036488
Art A1
20. Februar 2020
Anmelder: TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020036488
- Aktenzeichen
- EP19756028
- Anmeldetag
- 13. August 2019
- Veröffentlichung
- 20. Februar 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G01M11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Delft
Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.
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