Multi-layered resistive-thermocouple type temperature measuring wafer sensor and method for manufacturing same

WO2020040381 Art A1 27. Februar 2020

Anmelder: KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020040381
Aktenzeichen: EP19851146
Anmeldetag: 30. Januar 2019
Veröffentlichung: 27. Februar 2020
Rechtsraum: WO
IPC: H01L35/30H01L35/32H01L35/04H01L35/34H01L35/14H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS AND SCIENCE
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Research Institute of Standards and Science

Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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