Test methods, tester, load board and test system

WO2020042906 Art A1 5. März 2020

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020042906
Aktenzeichen: EP19855137
Anmeldetag: 14. August 2019
Veröffentlichung: 5. März 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00G11C29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Changxin Memory Technologies, Inc.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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