Method and apparatus for inspection using terahertz wave
WO2020045444
Art A1
5. März 2020
Anmelder: RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020045444
- Aktenzeichen
- EP19853473
- Anmeldetag
- 27. August 2019
- Veröffentlichung
- 5. März 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/3581
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RIKEN
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
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