Surface defect measurement method based on spectral confocal sensor

WO2020048148 Art A1 12. März 2020

Anmelder: ZHEJIANG UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020048148
Aktenzeichen: EP19856659
Anmeldetag: 8. Mai 2019
Veröffentlichung: 12. März 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ZHEJIANG UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Zhejiang University

Chinesische Universität mit Sitz in Hangzhou, eine der führenden Forschungshochschulen Chinas mit breitem Fächerspektrum einschließlich Ingenieurwissenschaften und Materialforschung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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