Two-dimensional flicker measurement device, two-dimensional flicker measurement method, and two-dimensional flicker measurement program

WO2020054209 Art A1 19. März 2020

Anmelder: KONICA MINOLTA, INC. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020054209
Aktenzeichen
EP19860466
Anmeldetag
16. Juli 2019
Veröffentlichung
19. März 2020
Rechtsraum
WO
IPC
H04N17/04G01J1/44G01M11/00G09G3/20
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
KONICA MINOLTA, INC.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Konica Minolta

Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.

1.193 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen