Capacitive detection area sensor, and conductive pattern testing device having said capacitive detection area sensor
WO2020059355
Art A1
26. März 2020
Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY, OHT INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020059355
- Aktenzeichen
- EP19863907
- Anmeldetag
- 8. August 2019
- Veröffentlichung
- 26. März 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/24G01N27/22H05K3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- TOHOKU UNIVERSITY
OHT INC. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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