Capacitive detection area sensor, and conductive pattern testing device having said capacitive detection area sensor

WO2020059355 Art A1 26. März 2020

Anmelder: TOHOKU UNIVERSITY, OHT INC. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020059355
Aktenzeichen
EP19863907
Anmeldetag
8. August 2019
Veröffentlichung
26. März 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G01R29/24G01N27/22H05K3/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
TOHOKU UNIVERSITY
OHT INC.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Tohoku University

Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.

837 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen