Method and system for analyzing image quality of super-resolution image
WO2020062901
Art A1
2. April 2020
Anmelder: Shenzhen University 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2020062901
- Aktenzeichen
- EP19864152
- Anmeldetag
- 27. Mai 2019
- Veröffentlichung
- 2. April 2020
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T7/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen University
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen University
Shenzhen University ist eine staatliche Universität in Shenzhen, China, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Elektrotechnik, Materialwissenschaft und Optik.
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