Chip and chip test system

WO2020063413 Art A1 2. April 2020

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2020063413
Aktenzeichen
EP19867089
Anmeldetag
18. September 2019
Veröffentlichung
2. April 2020
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/28G11C29/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Changxin Memory Technologies, Inc.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

2.637 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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