Nondestructive inspecting system, and nondestructive inspecting method

WO2020067115 Art A1 2. April 2020

Anmelder: TOPCON CORPORATION, RIKEN 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020067115
Aktenzeichen: EP19865970
Anmeldetag: 25. September 2019
Veröffentlichung: 2. April 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/204G01N23/05G01N23/20008G01T3/00G01T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: TOPCON CORPORATION
RIKEN
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

710 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 RIKEN

Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.

1.684 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von