Analysis device, analysis method, and analysis program

WO2020075327 Art A1 16. April 2020

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020075327
Aktenzeichen: EP19871968
Anmeldetag: 26. März 2019
Veröffentlichung: 16. April 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R1/067G01R31/26H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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