Topographically structured support for electron crystallography

WO2020083730 Art A1 30. April 2020

Anmelder: PAUL SCHERRER INSTITUT 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2020083730
Aktenzeichen: EP19795124
Anmeldetag: 17. Oktober 2019
Veröffentlichung: 30. April 2020
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/20025G01N23/20058H01J37/20G01N1/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: PAUL SCHERRER INSTITUT
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 PAUL Scherrer Institut

Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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